仪器仪表工程是冷门专业吗探索光电轮廓仪WGL的独特魅力
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一、产品亮点介绍
本光电轮廓仪WGL采用先进的非接触式光学相移干涉测量技术，能够无损地捕捉到各种工件表面的微观细节，并精确分析其立体形貌。它广泛应用于测量不同材料的表面粗糙度、刻线深度以及复杂结构的镀层厚度和边界特征。此外，它还能用于磁盘、磁头及硅片等高科技产品的表面结构分析。
由于其卓越的测量精度、高效率和三维测量能力，本仪器成为了各级测试机构、计量研究单位、工矿企业计量室以及精密加工车间不可或缺的工具，同时也是高等院校和科研机构进行实验教学和科研探索的理想选择。
二、技术规格说明
表面微观不平深度检测范围：在连续表面上，相邻两个像素之间高度变化不超过1/4波长时可达1000nm；如果存在大于1/4波长高度突变，则可达130nm。
测量重复性：δRa ≤ 0.5nm
物镜倍率:40X
数值孔径:Φ65mm
工作距离:500μm
仪器视场：
目视视场：Φ0.25mm
摄象（计算机屏幕）视场：13×13μm² (即0.13×0.13mm)
放大倍数：
目视放大倍数:500x
摄象（计算机屏幕）放大倍数:2500x
接收器阵列尺寸：1000个像素排列成1000行，每个像素为5.2×5.2µm²大小。
测量时间采样扫描时间：每次1秒钟。
标准镜反射率：
高反射率约50%
低反射率约4%
其他关键参数包括照明光源白炽灯6V, 绿色干涉滤光片中心波长λ≒530nm且半宽 λ≒10nm，以及主显微镜升程110mm与工作台升程5mm。工作台移动范围X方向±10mm，Y方向±10mm，并具有360°旋转运动能力及±6°顷斜调整功能。最后，推荐搭配P4处理器以上版本、内存至少1G及17英寸纯平显示器组合使用以实现最佳性能。
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