买仪器网您是否需要光电轮廓仪 WGL
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一、产品特性概述
本款光电轮廓仪 WGL 采用先进的非接触式光学相移干涉测量技术，能够无损地捕捉各种工件表面微观形貌的精确三维图像，并提供详尽的分析和计算功能。其适用范围广泛，包括对量块、光学零件表面的粗糙度进行测量，以及标尺、度盘刻线深度、光栅槽结构镀层厚度与边界形貌等多种应用场景。此外，它还能用于磁（光）盘和磁头表面结构测量以及硅片表面粗糙度及其图形结构的探究。
由于其卓越的测量精度、高效率以及非接触式三维扫描能力，本仪器成为各级测试机构计量室、工矿企业计量部门、高精加工车间、中高等院校及科研单位不可或缺的一项关键设备.
二、技术规格说明
表面微观不平深度测量范围：在连续曲线上，无大于波长四分之一高度突变时可达1000nm/1nm；有大于此值突变时为130nm/1nm.
测量重复性：δRa ≤ 0.5 nm.
物镜倍率:40X, 数值孔径:Φ65mm, 工作距离:0.5mm.
仪器视场：目视 Φ0.25mm, 摄象 Φ0.13×0.13mm.
放大倍数：目视500×, 摄象2500× (屏幕显示).
接收器列阵大小：1000x1000个象素，象素尺寸为5.2×5.2µm.
扫描时间：每次1秒钟.
标准反射率（高）:约50%，反射率（低）:约4%.
照明源类型:6V 5W白炽灯；绿色干涉滤波片λ≒530nm，半宽 λ≒10nm.
主显镜升程长度110 mm, 工作台升程长度5 mm; X/Y方向移动范围±10 mm; 工作台旋转角360°；顷斜角±6°
计算机配置要求:P4处理器以上，内存至少1GGBRAM，17寸纯平显示器.
通过这套完备且先进的技术参数，本款光电轮廓仪 WGL 提供了一个强大的工具，让用户能够轻松获得精密和全面的大型装配件质量控制数据。
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