难道你不认识光电轮廓仪 WGL吗它可是我们在仪器仪表的认识和使用中不可或缺的一部分
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一、产品特性概述
本款光电轮廓仪 WGL 采用先进的非接触式光学相移干涉测量技术，能够无损地捕捉各种工件表面微观形貌的精确三维图像，并提供详尽的分析报告。其应用领域广泛，包括但不限于测量量块、光学零件表面的粗糙度；标尺、度盘刻线深度；光栅槽结构镀层厚度和边界形貌；磁（光）盘及磁头表面结构，以及硅片表面粗糙度及其图形结构等。此外，由于其高精度、高效率的特点，本仪器适用于各级测试研究单位、工矿企业计量室以及精密加工车间，同时也为高等院校和科研机构提供了强有力的支持。
二、技术规格配置
表面微观不平深度测量范围：在连续表面上，相邻象素之间高度突变小于波长四分之一时可达1000nm以内，大于此值时可达130nm以内，其重复性达到δRa ≤0.5nm。
物镜倍率为40X，数值孔径为Φ 65mm，工作距离约0.5mm，视场宽分别是目视 Φ0.25mm 和摄象 0.13×0.13mm.
仪器放大倍数设定有目视500×和摄象（计算机屏幕显示）2500×.
接收器采用1000X1000列阵，每个象素尺寸为5.2×5.2µm, 测量时间采样（扫描）速度可以达到1秒。
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