光电轮廓仪WGL它究竟在仪器检定和校准中扮演着什么角色

一、产品特性概述

本款光电轮廓仪WGL采用先进的非接触式光学相移干涉技术，实现对各种工件表面的微观形貌进行三维立体图像捕捉与分析，无需物理接触，从而保护原有工件表面完整性。其测量速度快，能够快速获取精确数据，并提供详细的形貌信息。适用于多种场景，如测量量块、光学零件的粗糙度；标尺和度盘刻线深度；光栅槽结构镀层厚度及边界细节；磁（光）盘和磁头表面结构；硅片表面粗糙度及其上覆盖图形结构等。此外，由于其高精度、高效率和三维测量能力，本仪器广泛应用于各级测试计量研究单位、工矿企业计量室、精密加工车间，以及高等院校和科研机构。

二、主要技术规格