难道不是光电轮廓仪 WGL那个仪器检定公司的精准之选吗

一、产品特性概述

本款光电轮廓仪 WGL 采用先进的非接触式光学相移干涉测量技术,能够无损地捕捉各种工件表面微观形态的精确三维图像,并提供详尽的分析报告。其应用领域广泛,包括但不限于测量量块、光学零件表面的粗糙度;标尺、度盘刻线深度;光栅槽结构镀层厚度及边界细节;磁(光)盘及磁头表面结构;硅片表面粗糙度及其复杂图案等。此仪器之所以受到青睐,是因为它结合了高精度、高效率和非接触性测量,同时配备计算机控制系统,以便快速分析并得出准确结果。因此,它成为各级测试机构、计量研究单位、工矿企业计量室以及精密加工车间,以及高等院校和科研机构不可或缺的工具。

二、技术规格说明

表面微观不平深度测量范围:在连续表面上,当相邻象素高度变化小于1/4波长时可达1000nm,否则为130nm。

测量重复性:δRa ≤ 0.5 nm

物镜倍率:40X; 数值孔径:Φ65mm; 工作距离:500μm

仪器视场:目视 Φ25mm, 摄象 Φ13×13 mm; 仪器放大倍数:目视500x, 摄象2500x

接收器列阵尺寸:1000×1000象素, 象素大小:5.2×5.2 μm; 测量时间采样(扫描):1s

标准镜反射率(高):约50%,反射率(低):约4%; 照明源白炽灯6V 5W; 绿色滤波片波长λ≒530nm, 半宽 λ≒10nm

主显微镜升程110mm, 工作台升程5mm; X/Y方向移动范围±10mm; 工作台旋转360°顷斜±6°;

计算机配置:P4以上处理器,内存≥1G,17寸纯平显示屏

通过这些卓越的性能参数,本款光电轮廓仪 WGL 成为了业界标准之一,为用户提供了极大的便利和数据准确性。