难道不是光电轮廓仪 WGL成为我们仪器仪表类相关专业中的佼佼者吗
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一、产品特性概述
本款光电轮廓仪 WGL 采用先进的非接触式光学相移干涉测量技术，能够无损地捕捉各种工件表面微观形态的精确三维图像，并提供详尽的分析报告。其应用领域广泛，包括但不限于测量量块、光学零件表面的粗糙度；标尺、度盘刻线深度；光栅槽结构镀层厚度及边界细节；磁（光）盘及磁头表面结构；硅片表面粗糙度及其复杂图案等。此仪器之所以受到青睐，是因为它结合了高精度、高效率和非接触性测量，同时配备计算机系统，可实现快速数据分析与处理。本设备适用于各级测试计量研究单位、工矿企业计量室、精密加工车间以及高等院校和科研机构，为用户提供了全面的一站式解决方案。
二、技术规格参数
测量范围：在连续平滑表面上，相邻两个像素之间高度变化不超过波长四分之一时，可达1000nm以上。在有突变的情况下可达130nm以上，其重复性控制在δRa ≤ 0.5 nm以内.
光学配置：采用40倍物镜，数值孔径Φ65mm，以保证良好的成像质量。工作距离为0.5mm，可以适应不同大小样品的测量需求.
视场与放大倍数：目视观察下的视场直径约为Φ0.25mm，而通过摄象系统可以达到13×13µm的小型化视场，同时支持500-2500倍放大以满足不同的观察需求.
检测能力：具备1000×1000个检测列阵，每个象素尺寸为5.2×5.2µm，有助于提高采样的速度并提升整体性能.
5 技术参数:
测验时间/采样时间: 每次1秒
工作台升降移动范围: 主显微镜110mm, 工作台主动位移10mm
计算机要求:
CPU:P4或更高;
内存:至少1G;
显示器:17英寸纯平显示器;
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数码电器测评
