难道您忘记了光电轮廓仪WGL的使用小心吗
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一、产品特性概述
本款光电轮廓仪WGL采用先进的非接触式光学相移干涉技术，实现对各种工件表面的微观形貌进行三维立体图像捕捉与分析，无需物理接触，从而保障测量对象的完整性和准确性。它广泛应用于各类精密度量、复杂表面结构评估，如测量金属或塑料物品的粗糙度，探究光学零件表面的微小变化，甚至可用于磁介质和半导体材料的高分辨率分析。此外，它也适用于研究硅片等半导体材料表面的细节结构，为相关行业提供了极为精确的手段。
由于其卓越的测量精度、高效计算能力以及便捷操作，本款光电轮廓仪不仅在计量室和工厂环境中发挥着重要作用，而且在高等教育机构及科研单位中同样备受青睐.
二、详细技术参数
测量范围：对于连续表面，其相邻象素间高度突变不得超过波长四分之一时，可达1000:1nm；若存在突变，则为130:1nm.
测量重复性：δRa ≤ 0.5 nm.
物镜倍率：40X.
数值孔径：Φ 65.
工作距离：0.5mm.
仪器视场（目视）： Φ0.25mm, （摄象）：0.13×0.13mm.
放大倍数（目视）：500×, （摄象/屏幕观察）：2500×.
接收器测量列阵大小：1000X1000.
此外，还包括以下附加功能:
象素尺寸为5.2×5.2µm。
测验采样时间约为每秒1S。
具有标准镜反射率高达50%且低至4%，并配备白炽灯6V 5W照明源。
绿色干涉滤光片波长λ≒530nm，半宽度λ≒10nm。
主显微镜升程110 mm，同时工作台升程达到了5 mm。
此设备还支持360°旋转运动，并具有一定的顷斜角调整能力，即±6°。最后，由P4级别以上电脑搭配至少2G内存及17寸纯平显示器组成，该系统旨在提升用户界面使用感同时保持数据处理速度快捷。
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