在仪器仪表行业中光电轮廓仪WGL又何其重要呢
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一、产品特性概述
本款光电轮廓仪WGL采用先进的非接触、光学相移干涉测量技术，能够无损地捕捉各种工件表面的微观形貌，并迅速生成立体图形。其强大的分析能力能够计算出精确的测量结果。适用于多种场合，如测量精密零件和光学元件的表面粗糙度，标尺和度盘刻线深度，以及镀层结构细节等。此外，它还可用于磁盘、磁头表面的结构分析，以及硅片上图形结构的高精度检测。该仪器之所以备受推崇，是因为它提供了极高的测量精度、高效三维测量能力以及电脑控制与快速数据处理功能，使其成为各级测试机构、计量研究单位、工矿企业计量室以及精密加工车间不可或缺的工具。此外，它也是高等院校和科研机构进行复杂实验时理想选择.
二、新一代技术规格
测量范围：在连续平滑表面下，不超过波长四分之一高度突变时，达到1000nm；超过这一阈值时，可达130nm。
测验重复性：δRa ≤ 0.5nm
物镜倍率：40X
数字孔径：Φ65mm
工作距离：0.5mm
视场大小（目视）： Φ25mm;（摄像）：13×13mm
放大倍数（目视）：500x;（摄像显示屏）2500x
接收器分辨率：1000个象素×1000个象素, 每个象素为5.2µm×5.2µm.
9a) 测量时间采样速度: 1秒;
9b) 标准反射率: 高约50%；低约4%
10a) 照明源: 白炽灯6V, 5W;
10b) 绿色干涉滤波器波长: λ≒530nm, 半宽λ≒10nm.
11a) 主显微镜升程: 110毫米;
11b) 工作台升程: 5毫米;
12a) X-Y方向移动范围: ±10毫米;
12b) 工作台旋转范围及斜角调整范围均可达360°±6°;
此款仪器搭载P4以上CPU、内存至少1G及17英寸纯平显示屏，为用户提供了更加稳定且舒适的手动操作环境。
